Размер
A A A
Цвет
Ц Ц Ц Ц Ц
Разрядка
ИИ И И И И
Изображения
нет Ч/Б Цв.
21 ноября 2024 | неделя нечетная

Система визуализации и анализа структуры нанообъектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP

Определение формы и состава наноструктур просвечивающей электронной микроскопией

Характеристики

Год выпуска2012
ПроизводительFEI Company
МодельTeknai G2 F-20 S-TWIN TMP [27943]
СтранаНидерланды
Страницаhttp://www.ckp-rf.ru/ckp/equipped/?SECTION_ID=492&ELEMENT_ID=252319

Группа обслуживания научного оборудования