Просвечивающий электронный микроскоп

• Отличные характеристики формирования изображений в режимах ПЭМ , СПЭМ и наноанализа
• Сверхвысокий вакуум
• Высокая пространственная когерентность благодаря ультрастабильному источнику Шоттки
• Высочайшая стабильность ускоряющего напряжения обеспечивает разброс энергии менее 0.7 эВ
• ускоряющее напряжение до 200 кВ
• Разрешение по точкам0,19 нм
• Информационный предел < 0,12 нм
• Разрешение в режиме STEM0,14нм
• Источник электронов20 - 200 кВ
• Увеличение25 x - 1,000 kx (ПЭМ) 150 x - 230 Mx (СПЭМ)

Характеристики